按键寿命测试方法和判定标准

按键寿命测试方法和判定标准,按键寿命测试检验产品的使用寿命及长期按键对周围器件的影响。按键寿命测试使用手机、MP3、电脑、电子词典按键、摇控器按键、硅橡胶按键、硅胶制品等产品，测试能力主要范围是适用于检测按键开关、轻触开关、薄膜开关等各类按键进行寿命测试。

1.测试目的：　　

制定规范的操作指引，提供试验人员进行按鍵寿命试验；　　

模拟用户日常使用电话的情形，试验在不同部位的按鍵寿命情況。　　

2.范测试围：　　

适用于所有电话机成品(除客户特殊要求外)以及物料。　　

3.参考文件：　　

W Reliability Test Items for North American Vtech and AT&T Brand Products.　　W Reliability Test Items for Vtech Europe Products.　　

4.定义：无。　

5.责任：　　

试验申请者提供试验功能正常的样品，并填写试验申请单；　　

实验室负责人负责完成所有的可靠性测试，并以E-Mail形式将试验结果通知Project Leader和申请者，试验完毕后发出的正式的报告，并将样品退还申请人；　　

对于Failure的项目，实验室负责人要在當天内通知相关负责人员，并协助分析Fail的原因；　　

相关部门在必要时提供改善行动，并且送改善后的Sample到实验室，重做测试，以确认改善行动是否有效。　　

6.程序　　

冲头的调校及安装(按鍵寿命测试)；　　

逐一调校冲头上的弹簧行程，用弹力计测量,使之符合按压距离 3.0±0.2mm时压力为450~600g；　　

将调校好的冲头正确地安装在冲压机上；　　

做按鍵寿命试验，VTECH标准要求如下：

机械寿命次数　　

试验过程中需每一万次停下来检查一次，如有问题需详细记录。　　

7.试验要求　　

试验中和试验后按鍵功能正常；　　

试验中和试验后按鍵有任何的机械损坏都是不可以接受的。